SN74ABTH18652APM
Fabrikant Productnummer:

SN74ABTH18652APM

Product Overview

Fabrikant:

Texas Instruments

DiGi Electronics Onderdeelnummer:

SN74ABTH18652APM-DG

Beschrijving:

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Gedetailleerde Beschrijving:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)

Voorraad:

1696816
Offerte Aanvragen
Aantal
Minimaal 1
num_del num_add
*
*
*
*
(*) is verplicht
We nemen binnen 24 uur contact met u op
INDIENEN

SN74ABTH18652APM Technische specificaties

Categorie
Logica, Specialiteit Logica
Fabrikant
Texas Instruments
Verpakking
Tray
Reeks
74ABTH
Toestand van het product
Active
Logisch type
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Voedingsspanning
4.5V ~ 5.5V
Aantal bits
18
Werkende Temperatuur
-40°C ~ 85°C
Type montage
Surface Mount
Pakket / Doos
64-LQFP
Leverancier Device Pakket
64-LQFP (10x10)
Basis productnummer
74ABTH18652

Datasheet & Documenten

Aanvullende informatie

Standaard pakket
160
Andere namen
-296-4137
SN74ABTH18652APMG4-DG
-SN74ABTH18652APMG4
TEXTISSN74ABTH18652APM
-SN74ABTH18652APM-NDR
-296-4137-NDR
296-4137
-296-4137-DG
296-4137-NDR
SN74ABTH18652APMG4
2156-SN74ABTH18652APM
-SN74ABTH18652APMG4-NDR

Milieu- en Exportclassificatie

RoHS-status
ROHS3 Compliant
Vochtgevoeligheidsniveau (MSL)
3 (168 Hours)
REACH-status
REACH Unaffected
Het Europees Geneesmiddelenbureau (ECCN)
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Certificering
Gerelateerde Producten
microchip-technology

SY100EL16VCKI-TR

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP

texas-instruments

SN74ABTE16245DL

IC 16BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP

texas-instruments

SN74ABT8652DW

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

texas-instruments

SN74BCT2414DWR

IC DECODER MEM DUAL 2-4 20-SOIC