SN74BCT8374ADWR
Fabrikant Productnummer:

SN74BCT8374ADWR

Product Overview

Fabrikant:

Texas Instruments

DiGi Electronics Onderdeelnummer:

SN74BCT8374ADWR-DG

Beschrijving:

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Gedetailleerde Beschrijving:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC

Voorraad:

1548991
Offerte Aanvragen
Aantal
Minimaal 1
num_del num_add
*
*
*
*
(*) is verplicht
We nemen binnen 24 uur contact met u op
INDIENEN

SN74BCT8374ADWR Technische specificaties

Categorie
Logica, Specialiteit Logica
Fabrikant
Texas Instruments
Verpakking
-
Reeks
74BCT
Toestand van het product
Obsolete
Logisch type
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voedingsspanning
4.5V ~ 5.5V
Aantal bits
8
Werkende Temperatuur
0°C ~ 70°C
Type montage
Surface Mount
Pakket / Doos
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Leverancier Device Pakket
24-SOIC
Basis productnummer
74BCT8374

Datasheet & Documenten

Technische fiches

Aanvullende informatie

Standaard pakket
2,000

Milieu- en Exportclassificatie

RoHS-status
ROHS3 Compliant
Vochtgevoeligheidsniveau (MSL)
1 (Unlimited)
REACH-status
REACH Unaffected
Het Europees Geneesmiddelenbureau (ECCN)
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Certificering
Gerelateerde Producten
texas-instruments

SN74BCT29854NT

IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24DIP

texas-instruments

SN74FB1650PCA

IC 18-BIT TTL/BTL XCVR 100-HLQFP

texas-instruments

SN74FB2041ARC

IC 7BIT TTL/BTL XCVR 52-QFP

texas-instruments

SN74ACT1284DBR

IC 7-BIT BUS INTERFACE 20-SSOP