SN74BCT8374ADWRG4
Fabrikant Productnummer:

SN74BCT8374ADWRG4

Product Overview

Fabrikant:

Texas Instruments

DiGi Electronics Onderdeelnummer:

SN74BCT8374ADWRG4-DG

Beschrijving:

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Gedetailleerde Beschrijving:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC

Voorraad:

Offerte Aanvragen Online
1671931
Offerte Aanvragen
Aantal
Minimaal 1
num_del num_add
*
*
*
*
(*) is verplicht
We nemen binnen 24 uur contact met u op
INDIENEN

SN74BCT8374ADWRG4 Technische specificaties

Categorie
Logica, Specialiteit Logica
Fabrikant
Texas Instruments
Verpakking
-
Reeks
74BCT
Toestand van het product
Obsolete
Logisch type
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voedingsspanning
4.5V ~ 5.5V
Aantal bits
8
Werkende Temperatuur
0°C ~ 70°C
Type montage
Surface Mount
Pakket / Doos
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Leverancier Device Pakket
24-SOIC
Basis productnummer
74BCT8374

Datasheet & Documenten

Technische fiches
SN54/74BCT8374A

Aanvullende informatie

Standaard pakket
2,000

Milieu- en Exportclassificatie

RoHS-status
ROHS3 Compliant
Vochtgevoeligheidsniveau (MSL)
1 (Unlimited)
REACH-status
REACH Unaffected
Het Europees Geneesmiddelenbureau (ECCN)
EAR99
HTSUS
8542.39.0001

Alternatieve Modellen

DEELNUMMER
SN74BCT8374ADW
Fabrikant
Texas Instruments
BESCHIKBARE HOEVEELHEID
75
DEELNUMMER
SN74BCT8374ADW-DG
EENHEIDSPRIJS
6.13
SUBSTITUTIE TYPE
Direct
DIGI Certificering
certification_01
certification_02
certification_03
certification_04
cr
certification_015
certification_08
esd
Gerelateerde Producten
microchip-technology

SY10EL16VCKC

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP

microchip-technology

SY10EL16VZC-TR

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC

microchip-technology

SY100EL16VFZC TR

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC

texas-instruments

SN74BCT8245ADW

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC