Fabrikant Productnummer:
SN74BCT8374ANTG4
Product Overview
Fabrikant:
Texas Instruments
DiGi Electronics Onderdeelnummer:
SN74BCT8374ANTG4-DG
Beschrijving:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Gedetailleerde Beschrijving:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
Voorraad:
1667859
Offerte Aanvragen
Aantal
Minimaal 1
Minimaal 1
(*) is verplicht
We nemen binnen 24 uur contact met u op
We nemen binnen 24 uur contact met u op
INDIENEN
SN74BCT8374ANTG4 Technische specificaties
Categorie
Logica, Specialiteit Logica
Fabrikant
Texas Instruments
Verpakking
-
Reeks
74BCT
Toestand van het product
Obsolete
Logisch type
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voedingsspanning
4.5V ~ 5.5V
Aantal bits
8
Werkende Temperatuur
0°C ~ 70°C
Type montage
Through Hole
Pakket / Doos
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Leverancier Device Pakket
24-PDIP
Basis productnummer
74BCT8374
Datasheet & Documenten
Technische fiches
Aanvullende informatie
Standaard pakket
60
Andere namen
SN74BCT8374ANTE4-DG
SN74BCT8374ANTE4
Milieu- en Exportclassificatie
RoHS-status
ROHS3 Compliant
Vochtgevoeligheidsniveau (MSL)
1 (Unlimited)
REACH-status
REACH Unaffected
Het Europees Geneesmiddelenbureau (ECCN)
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Alternatieve Modellen
DEELNUMMER
SN74BCT374N
Fabrikant
Texas Instruments
BESCHIKBARE HOEVEELHEID
0
DEELNUMMER
SN74BCT374N-DG
EENHEIDSPRIJS
4.14
SUBSTITUTIE TYPE
MFR Recommended
DIGI Certificering
Gerelateerde Producten
SY10EL16VKC-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SY10EL16VKC
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SY100EP16VKG-TR
IC LN RCVR DIFF 3.3V/5V 8MSOP
